判斷題

AFM通常用來觀測樣品表面形貌。

答案： 正確
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判斷題

TEM觀測與SEM相同，對樣品厚度沒有要求。
答案： 錯(cuò)誤
判斷題

通常利用TEM觀測的分辨率高于SEM。
答案： 正確
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