填空題

用地質(zhì)羅盤(pán)可以直接測(cè)量巖層的產(chǎn)狀，其測(cè)量方法有兩種，即（）和（），但是在使用羅盤(pán)之前，應(yīng)首先校正羅盤(pán)（）。

答案： 直接測(cè)量法；間接測(cè)量法；磁偏角
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答案： 垂直
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