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單項(xiàng)選擇題

硬盤在正常運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)下，在進(jìn)行初始化時(shí)會(huì)將固件區(qū)的程序?qū)懭氲诫娐钒宓模ǎ┲小?/h4>

A.RAM
B.ROM
C.電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片
D.電源控制芯片

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單項(xiàng)選擇題

硬盤在使用過程中發(fā)現(xiàn)新的缺陷扇區(qū)，硬盤會(huì)自動(dòng)重定向到（）中。

A.P-List
B.G-List
C.段表
D.扇區(qū)表

單項(xiàng)選擇題

在工廠測(cè)試時(shí)，檢測(cè)發(fā)現(xiàn)的壞扇區(qū)都被添加到缺陷表，這一缺陷表稱為（）。

A.P-List
B.G-List
C.段表
D.成長缺陷表

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