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A.在嵌入式系統(tǒng)開發(fā)時，通?？梢园哑溟_發(fā)過程劃分為：系統(tǒng)需求分析與規(guī)格說明、系統(tǒng)設(shè)計、構(gòu)件設(shè)計、系統(tǒng)集成與測試等幾個階段。
B.所謂的構(gòu)件設(shè)計，是指包括軟件設(shè)計與編程、專用硬件芯片選擇及硬件電路設(shè)計等具體設(shè)計工作。
C.系統(tǒng)集成與測試的目的是發(fā)現(xiàn)設(shè)計中的錯誤并進(jìn)行改正。在此階段，應(yīng)該等系統(tǒng)集成完成后再整體地對系統(tǒng)進(jìn)行測試。
D.嵌入式系統(tǒng)設(shè)計者需要遵循軟硬一體、軟硬協(xié)調(diào)設(shè)計的思想。在系統(tǒng)功能滿足要求的前提下，結(jié)合性能、費用成本、尺寸等約束條件，確定哪些功能由硬件構(gòu)件實現(xiàn)，哪些功能由軟件構(gòu)件實現(xiàn)。

A.邊界掃描技術(shù)是調(diào)試硬件芯片及目標(biāo)機(jī)電路板的一種常用調(diào)試技術(shù)。
B.JTAG組織所研究的測試訪問端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)，成為了片上測試技術(shù)的一種國際標(biāo)準(zhǔn)，即俗稱的JTAG標(biāo)準(zhǔn)。
C.使用片上調(diào)試技術(shù)進(jìn)行嵌入式系統(tǒng)目標(biāo)機(jī)調(diào)試時，無需目標(biāo)存儲器，也不占用目標(biāo)機(jī)任何I/O端口。
D.經(jīng)常用于嵌入式系統(tǒng)設(shè)計中的微處理器（如：MCS-51、DSP、ARM）都支持JTAG標(biāo)準(zhǔn)的片上調(diào)試技術(shù)