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注入離子的射程主要由()決定。確定注入離子分布的主要參數(shù)是()及其()。注入離子分布的一級(jí)近似為()??蓪?xiě)成:
答案:
離子能量、離子種類(lèi)和襯底材料;平均投影射程;標(biāo)準(zhǔn)偏差;高斯分布
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CMOS集成電路的柵氧化層要求:()。通常用()氧化降低其界面態(tài)密度,用()氧化降低其針孔密度和提高介電擊穿強(qiáng)度。
答案:
針孔密度低、界面態(tài)密度低、可動(dòng)電荷密度低和固定電荷密度低、介電擊穿高;含Cl;含N
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用C-V測(cè)試可以測(cè)定二氧化硅薄膜的:()
答案:
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