問答題

【簡(jiǎn)答題】指出下列敘述中的錯(cuò)誤,并予以改正:“對(duì)材料AmBn的研究方法是:用X射線衍射儀器對(duì)材料進(jìn)行含量及顯微組織形貌的測(cè)定;用掃描電鏡對(duì)材料進(jìn)行物相分析,確定其晶體學(xué)參數(shù);用透射電鏡對(duì)材料界面、結(jié)合組態(tài)進(jìn)行測(cè)試分析”。

答案: X.射線衍射儀可以對(duì)材料進(jìn)行物相分析,確定其晶體學(xué)參數(shù),但無法對(duì)材料進(jìn)行含量及顯微組織形貌的測(cè)定;掃描電鏡可以測(cè)定材料的...
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問答題

【簡(jiǎn)答題】在微米或納米量級(jí)上觀察樣品的表面形貌可以用什么方法?

答案:

在微米量級(jí)省可采用SEM和光學(xué)顯微鏡觀察。
在納米量級(jí)可采用SEM、TEM、AFM、STM等方法進(jìn)行觀察。

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