用標(biāo)準(zhǔn)加入法測(cè)定SiO2中微量鐵的質(zhì)量分?jǐn)?shù)時(shí),以鐵302.06nm為分析線,Si302.00nm為內(nèi)標(biāo)線。標(biāo)準(zhǔn)系樓中鐵叫人a量和分析線對(duì)測(cè)量值列于表中。時(shí)繪制工作曲線,求試樣SiO2中鐵的質(zhì)量分?jǐn)?shù)。
以R對(duì)WFe作圖可得:
由以上作圖可得出試樣中鐵的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為0.0018%。
某光柵光譜儀得光柵刻痕密度為2000mm-1,光柵寬度為50mm,f=0.65,試求:
(1)當(dāng)cosФ=1時(shí),改光譜儀二級(jí)光譜得倒線色散率為多少?
(2)當(dāng)只有30nm寬得光柵被照明,二級(jí)光譜儀得分辨率時(shí)多少?
(3)在波長(zhǎng)560nm時(shí),改光譜儀理論上能夠分開兩條譜線得最小波長(zhǎng)得多少?