A.橫波檢測(cè)薄壁管的內(nèi)、外壁缺陷 B.斜入射縱波檢測(cè)厚壁管外壁缺陷,變形橫波檢測(cè)內(nèi)壁缺陷 C.斜入射縱波檢測(cè)厚壁管外壁缺陷,反射縱波檢測(cè)內(nèi)壁缺陷 D.以上都是
A.當(dāng)超聲波的波長(zhǎng)遠(yuǎn)大于金屬晶粒大小時(shí) B.當(dāng)超聲波的波長(zhǎng)等于或小于金屬晶粒大小時(shí) C.當(dāng)超聲波的頻率過(guò)低或晶粒過(guò)小時(shí) D.當(dāng)螢光屏上不出現(xiàn)草從回波時(shí)
A.目視法 B.射線法 C.磁粉法 D.渦流法
A.原材料缺陷 B.鍛造缺陷 C.熱處理缺陷 D.以上都有
A.使用高聲阻抗耦合劑 B.使用軟保護(hù)膜探頭 C.使用較低頻率和減少探頭耦合面尺寸 D.以上都可以
A.Ⅰ級(jí) B.Ⅱ級(jí) C.Ⅲ級(jí) D.Ⅳ級(jí)