被吸附雜質(zhì)的存在狀態(tài):分子型、離子型、原子型
包括:切斷、滾磨、定晶向、切片、倒角、研磨、腐蝕、拋光、清洗、檢驗(yàn)。
曝光時(shí)間、前烘的溫度和時(shí)間、光刻膠的膜厚、顯影液的濃度、顯影液的溫度、顯影液的攪動(dòng)情況
制造源、漏極與制造柵極采用兩次掩膜步驟,不容易對(duì)齊
注氧隔離技術(shù)、鍵合減薄技術(shù)、智能剝離技術(shù)。
它的空穴遷移率低于硅的空穴遷移率
柵長(zhǎng)、柵寬、柵指數(shù)